WD-XRF는 X-ray를 이용하여 유기물 및 무기물에서의 특정 원소를 정성/정량 분석할 수 있는 장비로 ppm부터 %까지 넓은 분석 범위를 가진다.
X-선관에서 발생한 연속 X-선이 시료에 조사되면 시료를 구성하고 있는 원소의 궤도 전자가 이탈하게되고, 이탈된 빈 공간은 상위궤도의 전자가 전이하여 채워진다. 이때 궤도간 전자 전이에 의해 발생한 에너지는 빛의 형태로 발산되고, 이를 형광 X-선이라고 한다.
[Analyzing crystal]
(1) K ~ U : LiF(200)
(2) Al ~ Sc : PETH
(3) P ~ Sc : GeH
(4) O ~ Mg : RX26
(5) Crystal for B : RX85
(6) Crystal for C : RX61F
(7) Crystal for N : RX45
(8) Crystal for O : RX40
[Detector]
(1) Scintillation Counter : 22Ti to 92U
(2) S-PC : 4Be to 28Ni
• 소재의 화학적 구성원소들의 정량, 정석 분석
| 구분 | 항목 | 단위 | 외부 | 교내 | 기타 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
분석의뢰 |
정성/정량 분석 | 시료 | 30,000 | 20,000 | ||
| 전처리(Pellet 제작) | 시료 | 10,000 | 5,000 | |||
| 전처리(Glass bead 제작) | 시료 | 40,000 | 20,000 |
