국립경국대학교 공동실험실습관

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기기	구분	항목	단위	외부	교내	기타	비고
3D영상현미경 Digital microscope	분석의뢰	기본사용	시간	15,000	10,000
3D영상현미경 Digital microscope	직접사용	기본사용	시간		3,000
가스크로마토그래피 질량분석기(5977C) Gas Chromatography/Mass Spectrometer	분석의뢰	정성분석	시료	40,000	20,000
		Headspace전처리	시료	22,000	12,000
		SPME전처리	시료	30,000	20,000
		정량분석	시료	50,000	30,000
가스크로마토그래피(2010 Plus) Gas Chromatography	분석의뢰	기본	건	25,000	25,000
		GC	시료	10,000	5,000
		purge&trap	시료	20,000	10,000
가스크로마토그래피(6890N) Gas Chromatography	분석의뢰	기본	건	25,000	25,000
		GC	시료	10,000	5,000
		purge&trap	시료	20,000	10,000
가스크로마토그래피(8890) Gas Chromatography	분석의뢰	기본	건	25,000	25,000
가스크로마토그래피(8890) Gas Chromatography	분석의뢰	GC	시료	10,000	5,000
가시/자외선 분광광도계(Cary-8454) UV/VIS	분석의뢰	UV/VIS/NIR analysis	시료	5,000	2,500
	분석의뢰	Reflectance analysis	시료	5,000	2,500
	직접사용	UV/VIS/NIR analysis	시료		1,000
		Reflectance analysis	시료		1,000
		시료전처리(불소)	시료		10,000
고분해능 가스크로마토그래프 질량분석기 High Resolution Gas Chromatograph Mass Spectrometer	분석의뢰	기본료	건	15,000	10,000
		분석료	성분	36,000	24,000
		진탕기	시간	30,000	15,000
		농축기	시간	30,000	15,000
		추출기	시간	30,000	15,000
고압초단파용해장치 High Pressure Microwave Digestion System	분석의뢰	질산, 왕수 처리	시료	60,000	30,000
고압초단파용해장치 High Pressure Microwave Digestion System	분석의뢰	불산처리	시료	80,000	60,000
고출력 X-선 회절기 X-Ray Diffractometer	분석의뢰	기본	시료	20,000	10,000
골드 코팅기 Au Coater	분석의뢰	Au coating	회/30초	20,000	15,000		30초 미만은 30초로 간주
골드 코팅기 Au Coater	직접사용	Au coating	회/30초		10,000		30초 미만은 30초로 간주
구면수차 보정 주사투과전자현미경(Cs correct STEM) Cs-correct Scanning Transmission Electron Microscope	분석의뢰	기본/저배율(STEM)	시간	250,000	150,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		고배율(Atomic Resolution)	시간	250,000	200,000
		EDS analysis	시간	60,000	50,000
		Grid 제작(Formvar Film)	시료	20,000	15,000
		Grid 제작(Lacey Film)	시료	25,000	20,000
낙하충격시험기(JCEAST9350) Drop Impact Tester	분석의뢰	기본	시료	50,000	25,000
	분석의뢰	추가시	시료	50,000	10,000
	직접사용	기본	시료		10,000
	직접사용	추가시료	시료		5,000
단결정 X-선 회절기 SCXRD, Single Crystal X-ray Diffractometer	분석의뢰	기초 실험(결정성 확인)	시료	30,000	15,000
		Data Collection (실온)	실온	120,000	60,000
		Data Collection(저온)	시료	160,000	80,000
		구조해석	시료	300,000	150,000
		재료비(Capillary 등)	-
	직접사용	기초 실험(결정성 확인)	시료		10,000
		Data Collection (실온)	시료		40,000
		Data Collection(저온	시료		50,000
		구조해석	시료		150,000
대용량 초순수제조장치(DIC MEDI PRO) Ultrapure water systems	직접사용	초순수	L	1,500	1,000
비표면적측정기(3flex) Specific Surface Area Analyzer	분석의뢰	BET analysis	시료	45,000	25,000
		Full analysis	시료	90,000	50,000
		Micropore analysis	시료	100,000	70,000
		Micropore analysis_12시간 초과	시간	5,000	5,000
비표면적측정기(BELSORP MAX) Specific Surface Area Analyzer	분석의뢰	BET analysis	시료	45,000	25,000
		Full analysis	시료	90,000	50,000
		Micropore analysis	시료	100,000	70,000
		Micropore analysis_12시간 초과	시간	5,000	5,000
수은분석기(DMA-80 evo) Automatic Mercury Analyzer	분석의뢰	기본	건	20,000	10,000
수은분석기(DMA-80 evo) Automatic Mercury Analyzer	분석의뢰	정량분석	시료	10,000	5,000
시차주사열량계(DSC 25) Differential Scanning Calorimeter	분석의뢰	저온 DSC	시간	20,000	10,000
실내공기 모니터링 시스템 Indoor air quality monitoring system	분석의뢰	미세먼지	시료	58,400	30,000
		이산화탄소	시료	36,300	10,000
		총부유세균	시료	79,300	30,000
		일산화탄소	시료	38,000	10,000
		이산화질소	시료	38,100	10,000
		오존	시료	40,000	20,000
		라돈	시료	52,800	20,000
실시간유전자증폭기(QS6_pro) Real-Time PCR System	분석의뢰	기본사용	회	20,000	15,000
		96-well	개	13,000	13,000
		sealing tape	개	3,000	3,000
	직접사용	기본사용	회		10,000
		96-well	개		13,000
		sealing tape	개		3,000
안정동위원소질량분석기 Stable Isotope Ratio Mass Spectrometer	분석의뢰	기본사용	시료	40,000	20,000
안정동위원소질량분석기 Stable Isotope Ratio Mass Spectrometer	분석의뢰	재료비	개	1,000	1,000
압축/굽힘 시험기 Compression & Bending testing machine	분석의뢰	인장, 압축시험	시료	8,000	6,000
압축/굽힘 시험기 Compression & Bending testing machine	직접사용	인장, 압축시험	시료	8,000	4,000
액체 크로마토그래프(Prominence) Liquid Chromatograph	분석의뢰	기본	건	25,000	25,000
액체 크로마토그래프(Prominence) Liquid Chromatograph	분석의뢰	LC	시료	10,000	5,000
열분석기(TG/DTA-8122) Thermal Analysis System	분석의뢰	TG/DTA	시간	20,000	10,000
열중량-시차주사열량 동시분석기(EVO2 STA) Thermogravimetric Differential Thermal Analyzer	분석의뢰	TG-DTA	시간	20,000	10,000
열탈착 가스 크로마토그래프 질량분석기 ATD-GC/MS (Automated Thermal Desorber Gas Chromatograph Mass Spectrometer)	분석의뢰	정성분석	시료	40,000	20,000
		정량분석	시료	50,000	25,000
		ATD 전처리	시료	30,000	15,000
		library search(6개 이상)	peak	2,000	1,000
원자흡수분광기(240AA) Atomic Absorption Spectrometer	분석의뢰	기본	건	18,000	18,000
		Graphite Tube Atomization	시료	16,000	8,000
		Vapor Generation Analysis	시료	16,000	8,000
		Flame	시료	4,000	2,000
위상차 현미경 Phase Contrast Microscope	분석의뢰	현미경 사용	시간	20,000	10,000
위상차 현미경 Phase Contrast Microscope	직접사용	현미경 사용	시간		3,000
유도결합 플라즈마/방출분광기(Agilent-5110) ICP, Inductively Coupled Plasma Spectrometer	분석의뢰	기본	건	50,000	40,000
		시료	시료	12,000	6,000
		추가원소	원소	2,000	1,000
		필터	시료	2,000	2,000
		시료희석	시료	2,000	2,000
유도결합플라즈마/방출분광기(AVIO 550) ICP-OES, Inductively Coupled Plasma-Optical Emission Spectrometer	분석의뢰	기본	건	50,000	40,000
		시료	시료	12,000	6,000
		추가원소	원소	2,000	1,000
		필터	시료	2,000	2,000
		시료희석	시료	2,000	2,000
유도결합플라즈마/질량분석기(Agilent-7800) ICP/MS, Inductively Coupled Plasma mass spectrometer	분석의뢰	기본	건	50,000	40,000
		시료(원소 5개)	시료	30,000	12,000
		추가원소	원소	4,000	2,000
		필터	시료	2,000	2,000
		시료희석	시료	2,000	2,000
이온 연마기(Ion Milling System)-IM 5000 Ion Milling System	분석의뢰	표면연마(Flat Milling)	시간	100,000			외부사용 전용장비 교내는 IM4000 신청/사용
이온 연마기(Ion Milling System)-IM 5000 Ion Milling System	분석의뢰	단면절단(Cross section Milling)	시간	200,000			외부사용 전용장비 교내는 IM4000 신청/사용
이온 연마기(SEM Specimen)-IM 4000 Ion Milling System(SEM specimen)	분석의뢰	표면 연마(Flat Milling)	시간	100,000	40,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
	분석의뢰	단면 절단(Cross-section Milling)	시료	200,000	100,000
	직접사용	표면 연마(Flat Milling)	시간		20,000
	직접사용	단면 절단(Cross-section Milling)	시료		60,000
이온 연마기(TEM Specimen) Nano Mill(TEM Specimen Preraration System)	분석의뢰	표면연마	시료/시간	100,000	80,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
	직접사용	표면 연마	시료/시간		50,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
이온크로마토그래피(Metrohm) Ion Chromatography	분석의뢰	기본사용	건	30,000	20,000
		음, 양이온 정량분석	시료	25,000	13,000
		6가크롬	시료	35,000	15,000
		희석	시료	4,000	2,000
		바이알	개	2,000	1,000
		필터	시료	3,000	1,500
이중빔 집속이온빔 장치 FIB, Dual Beam Focused Ion Beam System	분석의뢰	TEM 시편제작	시료/4시간	400,000	300,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		TEM 시편제작 추가시간	시간	100,000	75,000
		표면연마(Cross-section) 및 FIB관찰	시간	200,000	150,000
		FE-SEM 관찰	시간	60,000	45,000
		EDS analysis	시간	30,000	15,000
		EBSD analysis	회/30분	90,000	67,000
		EBSD analysis 초과시간	30분	50,000	37,500
		Pt deposition	10분	40,000	20,000
		Au, Pt, Os, C coating	회	20,000	15,000
	직접사용	TEM 시편제작	시료/4시간		200,000
		TEM 시편제작 추가시간	시간		50,000
		표면연마(Cross-section)	시간		100,000
		FE-SEM 관찰	시간		30,000
		FIB 관찰	시간		50,000
		EDS analysis	시간		12,000
		EBSD analysis	회/30분		45,000
		EBSD analysis 초과시간	30분		25,000
		Au, Pt, Os, C coating	회		10,000
입자크기 분석기(Mastersizer 3000) Particle Size Analyzer	분석의뢰	기본사용	시료	15,000	10,000
	분석의뢰	에탄올	L	5,000	5,000
	직접사용	기본사용	시료		5,000
	직접사용	에탄올	L		5,000
자동원소분석기 Automatic Element Analyzer	분석의뢰	C,H,N,S	시료	40,000	20,000
자동원소분석기 Automatic Element Analyzer	분석의뢰	O	시료	40,000	20,000
전계방출형 전자탐침 미세분석기 FE-EPMA, Field Emission Electron Probe Micro Analyzer	분석의뢰	기본 사용(FE-SEM/WDS/EDS 포함)	시간	120,000	80,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		CL analysis(기본사용 외 별도/추가 적용)	시간	60,000	30,000
		Carbon(추가 적용)	회	20,000	15,000
	직접사용	기본 사용(FE-SEM/WDS/EDS 포함)	시간		60,000
		CL analysis(기본사용 외 별도/추가 적용)	시간		20,000
		Carbon Coating(추가 적용)	회		10,000
전계방출형 주사전자현미경(Clara)-외부 전용기기 FE-SEM, Field Emission Scanning Electron Microscope(Clara)	분석의뢰	현미경 사용	시간	70,000	55,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		Au coating	30초	20,000
		Au coating	30초		15,000
		EBSD analysis - 별도 전자후방산란회절기 신청/사용	시간
	직접사용	현미경 사용	시간		40,000
	직접사용	Au coating	30초		10,000
전계방출형 주사전자현미경(MIRA3)-교내 전용기기 FE-SEM, Field Emission Scanning Electron Microscope(MIRA3)	분석의뢰	현미경 사용	시간	70,000	55,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		EDS analysis(현미경 사용료 별도)	시간	40,000	20,000
		Coating(Au, Pt, Os)	회/30초	20,000	15,000
		EBSD(현미경 사용료 별도)	회/30분	50,000	40,000
		EBSD 초과사용(현미경 사용료 별도)	30분	30,000	25,000
	직접사용	현미경 사용	시간		40,000
		EDS analysis(현미경 사용료 별도)	시간		15,000
		Coating(Au, Pt, Os)	회/30초		10,000
		EBSD(현미경 사용료 별도)	회/30분		30,000
		EBSD 초과사용(현미경 사용료 별도)	30분		20,000
전자후방산란회절기-외부 전용기기(EDAX) EBSD, Electron Back Scattered Diffraction(EDAX)	분석의뢰	EDS analysis	시간	40,000	20,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		EBSD analysis	30분	50,000	40,000
		EBSD 초과사용	30분	30,000	25,000
	직접사용	EDS analysis	시간		15,000
전자후방산란회절기-외부 전용기기(OXFORD) EBSD, Electron Back Scattered Diffraction(OXFORD)	분석의뢰	EDS analysis	시간	40,000	20,000
		EBSD analysis	30분	50,000	40,000
		EBSD 초과사용	30분	30,000	25,000
	직접사용	EDS analysis	시간		15,000
주사탐침현미경(AFM_FX40) Atomic Force Microscope	분석의뢰	기본모드	시간	70,000	40,000		직접 사용(팁 사용자 준비) 단위 시간 미만 사용 시 단위 시간으로 적용
	분석의뢰	응용모드	시간	80,000	50,000
	직접사용	기본모드	시간		20,000
	직접사용	응용모드	시간		30,000
진동형시료자력계(8607) Vibrating Sample Magnetometer	분석의뢰	자력측정(상온)	시료	30,000	20,000		자력 측정(상온) 기본 10분 /시료 자력 측정(고온 및 저온) 기본 30분/시료 단위 시간 미만 사용 시 단위 시간으로 적용
		자력측정(상온) 추가시간	10분	15,000	10,000
		자력측정(고온 및 저온)	시료	100,000	50,000
		자력측정(고온 및 저온) 추가시간	30분	50,000	25,000
		펠렛제작	시료	5,000	5,000
청정실 clean Room	직접사용	기본사용	시간	10,000	5,000
청정실 clean Room	직접사용	추가시간	시간	7,000	2,500
총유기탄소측정기(Elementar) Total Organic Carbon Analyzer	분석의뢰	기본사용	건	20,000	10,000
		정량분석	시료	20,000	10,000
		희석	시료	3,000	1,500
		필터	시료	5,000	2,500
투과전자 현미경(Hitachi) TEM, Transmission Electron Microscope	분석의뢰	현미경 사용	시간	80,000	40,000		협약대: 교내의뢰 금액 적용
		Image 스캔	장	2,000	1,000
		Ultramicrotome	시료	30,000	10,000
		염색	시료	10,000	5,000
		EDS analysis	시간	50,000	20,000
	직접사용	현미경 사용	시간		30,000
	직접사용	EDS analysis	시간		10,000
핵자기공명분광기(NMR) Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer	분석의뢰	1H	시료	25,000	15,000
		기타핵종	시료	40,000	25,000
		2D	시료	80,000	50,000
		2D(추가)	시간	25,000	15,000
		온도변경실험	시료	55,000	25,000
	직접사용	1H	시료		10,000
		기타핵종	시료		20,000
		2D	시료		30,000
		2D(추가)	시간		10,000
		온도변경실험	시료		20,000
형광광학현미경 Fluorescence Optical Microscope	분석의뢰	현미경 사용	시간	20,000	10,000
형광광학현미경 Fluorescence Optical Microscope	직접사용	현미경 사용	시간		3,000
MALDI-TOF/TOF 질량분석기(autoflex maX) MALDI-TOF/TOF Mass Spectrometer	분석의뢰	TOF Reflector	시료	40,000	20,000		전처리(in-gel digestion포함) 서비스 미제공
		TOF Linear	시료	60,000	30,000
		TOF/TOF Reflector	시료	60,000	30,000
		TOF/TOF Linear	시료	80,000	40,000
		PMF	시료	100,000	50,000
		Biotyper	시료	40,000	20,000
		전처리	시료	45,000	30,000
Micro X-선 회절기(D/MAX RAPID-S) Micro Beam X-ray Diffractometer	분석의뢰	기본	건	20,000	10,000
	분석의뢰	scan	시료	5,000	2,500
X-선 광전자분광기(NEXSA G2) X-ray Photoelectron Spectroscopy	분석의뢰	surface analysis(기본 1시간/원소5개)	시료	100,000	60,000	60,000	시료 당 1point 분석 분석 시 원소 C 기본 포함 단위시간 미만 사용 시 단위시간으로 적용 협약대(대구경북 기기센터 협의회): 교내의뢰 금액 적용
		surface analysis 원소추가	원소	20,000	10,000	10,000
		surface analysis 추가시간	시간	50,000	25,000	25,000
		Depth profile(기본2시간/원소3개)	시료	200,000	100,000	100,000
		Depth profile 원소추가	원소	20,000	10,000	10,000
		Depth profile 추가시간	시간	50,000	25,000	25,000
		UPS(REELS, ISS) 기본 1시간	시료	150,000	100,000	100,000
		UPS(REELS, ISS) 추가시간	시간	50,000	25,000	25,000
		Ar Etching	회	20,000	15,000	15,000
X-선 형광분석기(ZSX Primus IV) X-ray Fluorescence Spectrometer	분석의뢰	정성/정량 분석	시료	30,000	20,000
		전처리(Pellet 제작)	시료	10,000	5,000
		전처리(Glass bead 제작)	시료	40,000	20,000
X-선 회절기(XRD Ultima IV) Powder X-ray Diffractometer	분석의뢰	2θ/θ scan	시간	20,000	15,000
	분석의뢰	Fole Figure, Thin Film, Residual Stress	시간	30,000	15,000
	직접사용	2θ/θ scan	시간		10,000
	직접사용	시간외 사용(2θ/θ scan)	시간		15,000

이용요금

교내의뢰의 경우 사용자 직접 조작가능 기기에 한해 교내의뢰 금액에서 일정비율 감면함.
교육용으로 이용시(학부 교과과정상의 실험실습과목)에는 사용료를 면제할 수 있다(재료비는 학과 부담). 단, 교수 1인, 한학기 1교과목, 총 8시간을 초과하지 않는다
외부 시료를 교내의뢰를 통하여 분석하는 경우 발견 시 외부금액 적용함.
위 표에 명시되지 않은 기기와 시료의 전처리 및 분석결과의 특별한 해석 의뢰시는 별도로 금액을 산정함.
연구 프로젝트 성격상 특정 기기를 많이 사용할 경우 사용료의 일정액을 감면하는 프로젝트당 사용료 계약을 할 수 있다.
야간 및 휴일에 기기를 사용할 경우 근무시간내 금액의 1.5배를 적용한다.
위 금액은 사정에 따라 변동, 조정될 수 있음.
기기사용 예약 후 1일 전(오후 6시)까지 예약취소 없이 사용하지 않을 경우 예약 시간만큼 사용료 청구됨.
기기사용료 입금: 신한은행, 예금주: 국립경국대학교(공동실험실습관), 계좌번호: 140-003-070707