1. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer/OXFORD Aztec Adv. Ultim Max)
• 시편 표면에 전자빔이 조사될때 내부에서 발생되는 X-선의 에너지를 검출하여 시료내의 조성 성분을 검출(정성분석/Qualitative Analysis)
• 시료의 특정 라인상의 원소의 분포 측정(Line Analysis)
• 시료의 일정 영역을 전자빔 조사하여 존재하는 특정 원소의 함량을 지도화(X-ray mapping)
2. EBSD(Electron BackScattered Diffraction/OXFORD HKL Symmetry S3)
• 전자빔 조사시 결정성 시료 조직의 극표면층(~50nm)에서 발생되는 후방산란 회절빔인 Kikuchi pattern을 측정하여 시료 조직의 grain size/distribution, phase, orientation등을 분석(EBSD)
1. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer)
• Detector type: SDD
• Detector Size: 100mm2
• Resolution: 127eV
• Window: SATW Light Element
2. EBSD(Electron BackScattered Diffraction)
• Sensor type: CMOS
• Acquisition speed: 5,700 pps
• Image size: 1244X1024 pixel
• 각종 재료물질(금속, 세라믹, 광물 등)의 조성원소의 정성 및 정량분석(EDS)
• 시료 표면의 일정 영역의 원소분포 측정(EDS X-ray mapping, Line analysis)
• 시료 결정성 조직의 phase, grain size, orientation, texture, strain 등 측정(EBSD)
| 구분 | 항목 | 단위 | 외부 | 교내 | 기타 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
분석의뢰 |
EDS analysis | 시간 | 40,000 | 20,000 | ||
| EBSD analysis | 30분 | 50,000 | 40,000 | |||
| EBSD 초과사용 | 30분 | 30,000 | 25,000 | |||
|
직접사용 |
EDS analysis | 시간 | 15,000 |
Symmetry S3 EBSD.pdf
Ultim Max Infinity EDS.pdf