| 월 | 화 | 수 | 목 | 금 | 토 | 일 |
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| 10:00 - 17:30 | 10:00 - 17:30 | 10:00 - 17:30 | 10:00 - 17:30 | 10:00 - 17:30 | X | X |
점심시간 이용불가 : 12:00 ~ 13:00
SEM 관찰용 시료의 표면 이온연마나 단면 절단에 사용되며, Ar Ion Beam을 시료 표면에 조사하여 특정부분을 정밀하게 연마(Flat Milling)하거나 단면을 절단(Cross Section Milling)한다.
• Ion Beam: Ar Ion
• 기능: Flat Milling, Cross section Milling
• 각종 시료의 SEM 관찰용 표면 연마(Flat Mill)
• 다층코팅 단면시편의 절단면 제작(Cross section)
• 각종 시편의 거친 연마 후 표면의 정밀연마에 이용
| 구분 | 항목 | 단위 | 외부 | 교내 | 기타 | 비고 |
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분석의뢰 |
표면 연마(Flat Milling) | 시간 | 100,000 | 40,000 | 협약대: 교내의뢰 금액 적용 | |
| 단면 절단(Cross-section Milling) | 시료 | 200,000 | 100,000 | |||
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직접사용 |
표면 연마(Flat Milling) | 시간 | 20,000 | |||
| 단면 절단(Cross-section Milling) | 시료 | 60,000 |
